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Wenn unsere Ölkürbisse reif sind, werden die Kerne geerntet, gewaschen, getrocknet, gereinigt und dann zu Öl gepresst. Kürbiskernöl Wenn unsere Ölkürbisse reif sind, werden die Kerne geerntet, gewaschen, getrocknet und gereinigt. In regelmäßigen Abständen übers Jahr fahren wir damit in die Steiermark in die Ölmühle, wo daraus in einem schonenden Pressvorgang 100%ig reines, einzigartig nussiges Kürbiskernöl gepresst wird, das wir noch am selben Tag wieder mit nach Hause nehmen können. Nach dem Absetzen füllen wir es in unsere Flaschen. Für die ausgezeichnete Qualität unseres Kürbiskernöles spricht die Auszeichnung „1. Preis – GOLD beim Ölkaiser“ in Wieselburg, über den wir uns 2014 sehr gefreut haben! Metz-Kürbiskernöl schmeckt besonders fein zu herrlichen Sommersalaten, zum sauren Rindfleisch, zum Schafkäse, in die Eierspeis. Ein spezieller Tipp: ein Schuss Kernöl und ein paar Kürbisschokokerne über das Vanilleeis – schmeckt großartig!

Für die Produktion von Lebensmitteln, wie Babynahrung und Cerealien, benötigt die Interquell GmbH an ihrem Standort im schwäbischen Großaitingen Prozessdampf. Um die Wirtschaftlichkeit zu erhöhen und Kosten einzusparen entschied sich der Lebensmittelhersteller für den Einbau eines SAACKE Mikro-KWK-Systems durch den Anlagenbauer Lausser. Die Kombination aus Mikrogasturbine, Gasturbinen-Abgas-Brenner und Dampfkessel wurde gewählt, da herkömmliche KWK-Anlagen die Anforderungen nicht gewährleisten können.

RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE REM-EDX Bei der REM – Rasterelektronenmikroskopie werden anstelle von Licht Elektronenstrahlen zur Erzeugung der Bilder verwendet. Dadurch wird ein deutlich höheres Auflösungsvermögen erreicht. Das Rasterelektronenmikroskop bildet Oberflächen von Proben mit einer dreidimensionalen Perspektive ab, wobei die große Tiefenschärfe von besonderer Bedeutung ist. Aus einer Elektronenquelle emittierte Elektronen werden zu einem feinen Strahl gebündelt. Dieser Strahl bewegt sich in einem genau definierten Raster über die Probenoberfläche. Die durch die Wechselwirkung mit dem Primärstrahl von der Probenoberfläche emittierten Elektronen werden von Detektoren aufgefangen und in ein Bild umgewandelt: Die Abbildung mit Sekundärelektronen (SE) ermöglicht die Darstellung der Topographie der Probenoberfläche; die Abbildung mit Rückstreuelektronen (Backscattered electrons, BSE) liefert zusätzlich noch Information über die unterschiedliche Zusammensetzung der Probenoberfläche (im BSE Modus: helle Stellen –schwerere Elemente, dunkle Stellen –leichtere Elemente). EINSATZGEBIET: Oberflächentopographie und Oberflächenstruktur - Oberflächenrauigkeiten - Unterschiedliche Elementzusammensetzung - Bruchflächencharakterisierung - Teilchengrößenbestimmung von Pulvern Gefügeuntersuchungen - Korngrößenverteilung - Phasenanalyse - Ausscheidungsidentifikation Schichtdickenbestimmung, Schichtstrukturanalyse Elementanalyse (EDX) Kristallographie, Orientierung, Textur (EBSD) SPEZIFIKATIONEN: Beschleunigungsspannung: 0,1 –30 kV Auflösung: Punkt zu Punktauflösung ca. 1 nm ; aufgrund FEG auch ausgezeichnete Auflösung bei geringen Beschleunigungsspannungen Maximaler Gasdruck in Probenkammer: 1,3 mbar (Semi)-quantitative Elementanalyse (EDX) für Elemente mit Ordnungszahlen ≥ Bor (EDAX-TEAM OCTANE PLUS Version. 4.3 System) Analyse der Orientierung mittels EBSD (Auflösung 100 nm) PROBENANFORDERUNGEN: Probegröße: max. 10 x 10 cm maximale Probenhöhe (bei Elementanalyse): 2 cm Probenzustand: fest, pulverförmig MÖGLICHE PROBEN: Leitende Oberflächen: z.B. Metalle Nicht leitende Oberflächen: z. B. Kunststoffe, Keramiken, Papier, etc.,…