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Laser Scanner Serie Q5, kompaktes Gehäuse, Scanraten von bis zu 14.000 Profilen/s und Auflösungen bis zu 3 µ erreicht werden Laser Scanner Q5 Produktfamilie: Eine gute Verbindung aus kompakten Design, hoher Auflösung und hoher Scan Rate. Die neue QuellTech Q5 Laser Scanner Serie kombiniert die Vorteile von kleinen Formfaktoren bei hoher Auflösung und hoher Scan Rate. Das Besondere an den Q5 Laser Scannern ist die Möglichkeit der Einschränkung des Bildbereiches (AOI) in der X- und in der Z- Achse. Diese Spezifikation begünstigt hohe Scanraten von bis zu 14.000 Profilen/s und hohe Auflösungen bis zu 0,3 µ. Insbesondere für optisch anspruchsvolle Oberflächen bietet der Q5 Laser Scanner die Option, anwenderspezifische einstellbare Auswerte-Algorithmen zu nutzen. Durch den Vorteil einer Kalibration on board, spart der Anwender Zeit in der Implementierung, da er sich nicht mehr um eine zeitaufwändige Kalibration kümmern muss. • Hohe Profilgeschwindigkeit von 14.000 Profilen/s und bis zu 28 Mio Punkte/s • Hohe Auflösung bis zu 0,3µ • Kompakter Formfaktor • X- Messbereich von 10-1022 mm • Z- Messbereich (Höhe) von 5-878 mm • Laserwellenlänge blau 405/450nm, rot 650nm In die neuen Q5 Laser Scanner sind weitere nützliche Produkteigenschaften implementiert wie z.B. die Möglichkeit einer Master-Slave Konfiguration für Multi-Scanner Betrieb, der eingebaute Temperatur Sensor in Elektronik und Laser, bietet zusätzliche Schutzfunktion und verbessert die Stabilität, weiterhin steht ein Software Developer Kit zur Verfügung. Zusätzlich gibt es eine Schnittstelle zu einer Bildverarbeitungssoftware, die ohne Programmieren parametriert werden kann. Im Lieferumfang der Q5 Laser Scanner erhält der Anwender auch eine nützliche, einfache und kostenlose Demosoftware zu eigenen Machbarkeitsuntersuchungen an Messobjekten. Weitere Informationen zu den neuen Q5 Laser Scanner Serie: QuellTech GmbH Leonrodstrasse 56 80636 München Ansprechpartner: Stefan Ringwald E-Mail: sr@quelltech.de Telefon: +49 89 124723-75 Gewicht: 2 Kg Messverfahren: Laser Triangulation Formfaktor: kompakt, 116x113,5x36 (BxLxH)

Die optoCONTROL 2520 Laser-Mikrometer werden für dimensionelle Messungen in Produktion und Qualitätsüberwachung in der Fertigungslinie eingesetzt. Die optischen Mikrometer optoCONTROL 2520 werden für dimensionelle Messungen in Produktion und Qualitätsüberwachung in der Fertigungslinie eingesetzt und messen sowohl Endlosmaterial als auch Stückgut. Dabei werden Größen wie Durchmesser, Spalt, Höhe, Position und Segmente mit hoher Genauigkeit erfasst. + Messung von bis zu 8 Segmenten zeitgleich + Messung von bis zu 16 Kanten zeitgleich + Kleinstes detektierbares Objekt von 100 µm

Der Messschieber wird sicher in eine Haltevorrichtung eingespannt. Eine präzise Linearachse positioniert den beweglichen Schenkel des Messschiebers exakt. Der Anzeigewert wird mittels Adapterkabel ausgelesen und mit der tatsächlichen Position der Linearachse verglichen. Auf dieser Basis wird eine grafische Kurve der Positionsabweichung gemäß VDI/VDE 2617 erstellt. Zusätzlich vermisst die integrierte Optik mithilfe der Bildverarbeitungstechnologie die Abstände und Breiten der Kupferbahnen auf dem unmontierten Maßband des Messschiebers.

Multisensor-Messgeräte der Vantage Baureihe sind ausgelegt für höchste Genauigkeiten – bis knapp unter 1 µm kann hiermit gemessen werden! Die solide Hartgesteinskonstruktion und der präzise Maschinenbau bieten hier die Grundlage für allerhöchste Genauigkeiten. Vantage Systeme können mit Mehrachs-Drehtischen zu einem Fertigungs-Messzentrum ausgerüstet werden. Telezentrische Zoomoptiken sind in mehreren Versionen verfügbar.

Das Multi-Wavelength Messgerät von SCHMIDT + HAENSCH ermöglicht präzise optische Messungen bei verschiedenen Wellenlängen und ist ideal für die Analyse von Proben in der Pharma-, Chemie- und Lebensmittelindustrie. Dieses hochentwickelte Gerät bietet eine flexible Anpassung an unterschiedliche Messanforderungen, indem es mehrere Wellenlängen für die Untersuchung optischer Eigenschaften wie Brechungsindex und Absorption verwendet. Durch seine hohe Genauigkeit und die schnelle Messung ist es ideal für die Qualitätskontrolle und Forschung. Eigenschaften und Vorteile: Mehrere Wellenlängen: Erfassung von Messdaten bei verschiedenen Wellenlängen Hohe Präzision: Genaue Messungen für anspruchsvolle Analyseanforderungen Vielseitige Anwendungen: Geeignet für Pharma-, Chemie- und Lebensmittelindustrie Schnelle und zuverlässige Analysen: Optimiert für eine hohe Effizienz Benutzerfreundliche Bedienung: Intuitive Software für einfache Handhabung Langlebigkeit: Robustes Design für den langfristigen Einsatz

Modern und präzise. Ob zu Beginn, während oder am Ende eines Projekts sind Messungen der Komponenten oder lichttechnischen Systeme notwendig. opsira führt für Sie in mehreren Lichtmesslaboren die gewünschten lichttechnischen Größen durch und liefert aussagekräftige Messdaten und Prüfprotokolle. Die Messungen werden mit rückführbar kalibrierten Detektoren durchgeführt und entsprechend dokumentiert. Von der einfachen Messung einer Oberflächenreflexion bis hin zu komplexen Streulichtverteilungen oder Lichtverteilungskörpern im Fernfeld - Sie erhalten Ihre Daten schnell und können damit Ihr Projekt vorantreiben oder die Informationen in Ihre Vertriebsunterlagen einfließen lassen. Im nachfolgenden Download finden Sie einige Beispiele aus dem Angebot des opsira Lichtmesslabors: Lichtlabor Produktinformation 1 MB Lichtmesslabor Haben Sie Fragen?

of colored glass filters, LPF, KPF V lambda filters, UV, IR, interference filters, optical filters, broadband filters, plastic filters in transmission and reflection. Pay surveying also in the angle.

schnell, berührungslos, genormte Rauheitsbestimmung (DIN EN ISO 4287) Die optische Profilometrie ist ein Analyseverfahren zur berührungslosen Bestimmung der Topografie von Oberflächen verschiedenster Materialien wie Metallen, Keramiken, Halbleitern, Kunststoffen, Polymeren, Gummi, etc. Neuere Geräte der optischen Profilometrie erreichen dabei Tiefenauflösungen von ca. 1 nm. Für die analytische Arbeit stehen verschiedene Messmodi zur Verfügung, die eine Bestimmung von Probenrauheiten nach DIN EN ISO 4287 erlauben. Derartige Analysen können selbst an optisch aktiven Medien (z.B. Gläsern, Lichtwellenleitern, Optiken...) nach einer entsprechenden Probenvorbereitung durchgeführt werden. Details zur optischen Profilometrie im Labor Messprinzip - Informationsgehalt - analytische Möglichkeiten Mittels optischer Profilometrie kann die Topografie einer Oberfläche berührungslos mit einer vertikalen Auflösung von bis zu einem nm untersucht werden. Das im Labor der Tascon GmbH eingesetzte Messgerät erlaubt sowohl Analysen mit der konfokalen Mikroskopie als auch mit der Weißlicht-Interferometrie. Bei der konfokalen Mikroskopie wird ein monochromatischer Lichtstrahl auf einen Probenoberfläche fokussiert. Durch die Verwendung geeigneter Blenden wird sichergestellt, dass nur das in der Fokusebene reflektierte Licht den bildgebenden CCD-Sensor erreicht. Somit wird nur die im Fokus des einfallenden Lichts ausgeleuchtete Teilfläche für die Oberflächenanalyse bildgebend erfasst. Durch eine rechnergesteuerte, kontinuierliche Variation des Abstands zwischen Probenoberfläche und optischem System werden entsprechende Einzelbilder der Probenoberfläche gewonnen. Diese Bilder dienen zur Berechnung eines dreidimensionalen Modells der Probenoberfläche. Die Daten können dann anschließend zur Analyse der Oberflächentopografie und Oberflächenstruktur ausgewertet werden. Für die Profilometrie mittels einer interferometrischen Analyse (z.B. Weißlicht Interferometrie) wird die Probenoberfläche mit monochromatischem Licht bestrahlt. Während der Messung wird der Abstand zwischen der Probe und dem Objektiv des Interferometers in kleinen Schritten vergrößert. Aufgrund der Topographie treten für jeden Punkt der Oberfläche verschiedene Laufzeitunterschiede zwischen dem reflektierten Lichtstrahl und einem Referenzlichtstrahl auf. Die Überlagerung beider Lichtstrahlen resultiert in einem Interferenzmuster, das sich während der feinschrittigen Änderung des vertikalen Abstands zur Probe über die Oberfläche bewegt. Aus diesen Abfolgen von Interferenzbildern ergibt sich für jeden Objektpunkt ein Interferogramm, aus dem sich die Probentopografie und andere Oberflächenparameter der Profilometrie berechnen lassen. Anhand der analytischen Fragestellung und der Probeneigenschaften wird entschieden, welche der beiden Messmethoden, Weißlichtinterferometrie oder konfokale Mikroskopie, zum Einsatz kommt. Als Proben sind alle reflektierenden oder nicht transparenten Oberflächen mit Höhenunterschieden von maximal 2 cm geeignet. Analysen optisch transparenter Probensysteme (z.B. Spiegel, Gläser, ...) sind im Labor nur eingeschränkt möglich. Für eine genaue Ermittlung von topographischen Informationen empfiehlt es sich, bei diesen Systemen vor der Analyse im Labor einen dünnen, reflektierenden Metallfilm auf die Oberfläche abzuscheiden. Wenn die Analysen mit optischer Profilometrie an den Oberflächen dennoch nicht möglich sind, dann gibt es darüber hinaus zahlreiche andere Methoden zur Bestimmung der Oberflächentopographie im

Einfach - genau - wirtschaftlich! Für alle, die ihre Arbeit genau nehmen Wir, als Qualitätsberater bieten eine umfangreiche Produktpalette für Ihre Messaufgaben. Vom der Präzisionsmessuhr in der Industrie bis zum Linienlaser auf der Baustelle, finden Sie messtechnische Lösungen für Ihre Ansprüche an.

vicotar® BLUE Vision Serie telezentrische Messobjektive mit 88 Millimeter Objektfelddurchmesser telezentrisches Messobjektiv mit objektseitig telezentrischem Strahlengang farbkorrigiert für den sichtbaren Spektralbereich und nahes Infrarot Farbkorrektur erweitert bis tief in den blauen Spektralbereich sehr gut geeignet für blaue LEDs inklusive „Deep Blue“-LED dadurch besonders geeignet für weiße LEDs, da diese einen starken Blaulicht-Anteil besitzen hochauflösend, geringer Farbquerfehler, verzeichnungsarm, geringer Telezentriefehler verstellbare Blende mit Kennzeichnung der Blendenzahlen, arretierbar robuste Industrie-Ausführung verschiedenen Sensorgrößen von 1/3” bis hin zum DX-Format auch in rüttelfester Ausführung mit fester Blende Dank des parallelen Strahlengangs auf der Objektseite bilden sie ohne perspektivische Verzerrungen ab. Nur so sind exakte Messungen und Positionsbestimmungen möglich. Die lichtstarken Objektive sind nicht nur für den sichtbaren Spektralbereich und nahes Infrarot, sondern bis tief in den blauen Bereich farbkorrigiert. Dadurch arbeiten sie optimal mit dem Licht blauer, aber auch weißer LEDs zusammen, da letztere einen hohen Anteil an blauem Licht besitzen. Bilduntersuchungen mit blauem Licht zeichnen sich durch höchste Schärfe bei maximaler Tiefenschärfe aus. Bei entsprechender Beleuchtung kann so praktisch die doppelte Auflösung gegenüber konventionellen Abbildungen erreicht werden. Sehen Sie unten aufgeführt alle 6 Objektive der Serie TO125, mit einigen Details, die jeweils für jedes Objektiv zutreffen. TO88/6.0-290-V-BW: C-Mount Objektiv TO88/9.0-155-V-BW: telezentrisches Messobjektiv TO88/11.0-140-V-BW: verstellbare Blende TO88/16.0-130-V-BW: geringer Telezentriefehler TO88/21.5-140-V-BW: Arbeitsabstand hier 140 mm TO88/28.4-130-V-BW: M42 Anschluss in dieser Ausführung

Wir führen Abnahmemessungen z.B. nach DIN ISO/IEC 14763-3 (VDE 0800-763-3) durch. Natürlich bereiten wir Ihnen die Testergebnisse transparent auf und unterstützen Sie bei der Auswertung von Fremdmessungen.

LuphoScan 260 - Interferometrisch arbeitendes Abstandsmesssystem, basierend auf der MWLI®-Technologie (Mehrwellenlängen-Interferometrie), für eine hochpräzise, berührungslose 3D-Formmessung PGI Optics - Patentierte PGI-Technologie (Phase Grating Interferometer) erlaubt die Messung starker Krümmungen mit kurzen Tastabständen und ermöglicht durch hohe Steifigkeit bei geringer Krafteinwirkung höchste Genauigkeit und Reproduzierbarkeit. Zygo VeriFire Asphere

3D-Vermessung. Prüfberichte. Flächenrückführung. 3D-Messtechnik. STURM® zählt zu den führenden Dienstleistern im Bereich der digitalen Koordinaten-Messtechnik in Deutschland. Abhängig vom Anwendungsfall kommt bei uns die jeweils geeignete 3D-Messtechnik zum Einsatz. Auf Wunsch auch vor Ort. Unser Spektrum umfasst neben der optischen 3D-Messtechnik, dem 3D-Laser-Scanning und der industriellen Computertomographie sämtliche digitalen Technologien der Koordinaten-Messtechnik.

Fertigungstiefe in der Kunststoff-/Feinwerktechnik: Von Prototypen und Einzelteilen komplexer Baugruppen bis zu mittelgroßen Stückzahlen. CNC-Drehen/-Fräsen, Kunststoffspritzen, eigener Werkzeugbau.

Wirklich hohe Positioniergenauigkeiten lassen sich nur mit Glasmaßstäben erreichen. Unsere Achskontroller und Steuerungen können die digitalen Signale zählen und auswerten. Positioniergenauigkeiten von 0,01 mm, 1 µm und 0,1 µm sind möglich. Systeme mit Auflösungen von 0,1 µm haben wir geliefert für: Gentechnik - Arbeiten unter Mikroskop Extruder - Foliendickenmessung Gesellschaft für Schwerionenforschung GSI - Positionierung von Sensoren

VMU4030 Advantage - optisches 3D-CNC-Koordinatenmesssystem mit RationalVue Messmaschine in Vollgranit-Bauweise mit RationalVue - optische 3D-Software und Renishaw Messtaster für kombinierte taktile Messung Messbereich X =400 mm - Y = 300 mm - Z = 200 mm (Fokus) Messunsicherheit MPEE (1) : 2.5+L/100 µm Auflösung 0,5 µm

Aufbauend auf bewährten Stereomikroskopen und anderen optischen Systemen entwickeln und fertigen wir optische Kontroll- und Prüfgeräte zur Sicherung eines hohen Qualitätsstandards in Wareneingang, Fertigung und Warenausgang.

SCHWEGO chart 225 M hat eine Prüffläche von 14,8 cm x 18 cm / DIN A5 Format. Die Prüfkarte ist zur Simulation unversiegelter Untergründe unbeschichtet. Prüfkarten sind ein kostengünstiges Prüfmedium und werden für die visuelle oder mechanische Messung bestimmter Eigenschaften von Lacken, Farben, Druckfarben, Beizen oder Emulsionen eingesetzt. Bei Produktions- und Qualitätskontrollzwecken können Eigenschaften wie Deckvermögen, Verstreichbarkeit, Ergiebigkeit, Opazität und Spritzneigung einfach geprüft werden. Die unterschiedliche Beschaffenheit der Kartenoberfläche ermöglicht ein breites Einsatzgebiet. Prüfkarten sind auch unter den Bezeichnungen Kontrastkarten oder Aufziehkarten bekannt. Unbeschichtete Karten simulieren Holz oder andere unversiegelte Untergründe. Bei der Prüfkarte SCHWEGO chart 225 M handelt es sich um eine Prüfkarte mit schachbrettartigem Muster. SCHWEGO chart 225 M hat eine Prüffläche von 14,8 cm x 18 cm / DIN A5 Format. Die Prüfkarte ist zur Simulation unversiegelter Untergründe unbeschichtet. SCHWEGO chart 225 M: Prüffläche 14,8 cm x 18 cm / DIN A5 Format Schwego chart 224 M: Prüffläche 19,8 cm x 24,5 cm / DIN A4 Format

seit 2002 Expertise und Erfahrung Wir bieten 3D-Messdienstleistungen mit den optischen Messsystemen ATOS Core und ATOS TripleScan sowie mit dem Photogrammetriesystem TRITOP an. Die Messsysteme ermöglichen eine schnelle und hochauflösende 3D Digitalisierung von Objekten. Durch das berührungslose Streifenlichtprojektionsverfahren erfolgt ein nahezu materialunabhängiger flächenhafter 3D-Scan.

AXIAL-FARB-TV-KAMERA - einsetzbar ab DN 40 bis DN 150 - 87° bogengängig ab DN 50 TECHNISCHE DATEN - steckbarer Kamerakopf aus Edelstahl (32 mm Durchmesser, 40 mm Länge) - wasserdicht bis 3 bar - hochleistungs Kaltlicht-LEDs (16 ultrahelle LEDs) - Gewicht mit Feder: ca. 150 Gramm - Bild-Sensor: 1/4" Farb-CMOS - hochauflösendes Farbkameramodul (420 Linien) - Weitwinkelobjektiv: 90° - Focus: Fixfokus - lieferbar in PAL und NTSC Artikelnummer: 5-0027-001 Typ: Axialkamera

Palm-size DFD1 Touchscreen Tablet + DFS1 Digital FiberScope mit AFL SimpleView Plus Inspection Software damit Sie Inspektion und Analyse von FO Steckern einfach und schnell durchführen können.

Wegsysteme mit professioneller Sensorik für die Industrie und Forschung gibt es für alle messtechnischen Aufgaben und Anwendungen in allen Bereichen der Positionsmesstechnik, Wegmesstechnik, Füllstandsmessung, Abstandsmessung und Winkelmessung. Durch die Zunahme automatisierter Prozesse und deren Integration in immer neue Industriebereiche steigen zugleich die Anforderungen an die Wegsensoren. Besonderes Augenmerk gilt hier den Parametern Qualität, Zuverlässigkeit und Verfügbarkeit.

OVIS Inspect Bildverarbeitungssoftware ist die Komplettlösung für anspruchsvolle Inspektionsaufgaben in der 100%igen Fertigungskontrolle und Prozessüberwachung Die OVIS Inspect Software erlaubt die vollautomatische und lückenlose Überwachung von Fertigungsprozessen industrieller Bauteile und Serienkomponenten. Digital und in Echtzeit werden anspruchsvolle Mess- und Prüfaufgaben zu Lagen, Oberflächen und Defekten schnell und präzise realisiert. Neben der Qualitätssicherung trägt OVIS Inspect zur kontinuierlichen Überprüfung und Sicherstellung reibungsloser Prozessen bei. Hierzu vereint das Softwaretool ein Set aus vielfältigen Funktionen, einer umfangreichen Maßbibliothek sowie leistungsstarken Bildverarbeitungswerkzeugen. Komplexe Prüfaufgaben und -abläufe lassen sich mit wenigen Mausklicks und dank des hohen Bedienkomforts einfach und intuitiv durchführen sowie übersichtlich auswerten. Ihre Vorteile auf einen Blick: - Automatische Prüfung und statistische Analyse der Prüfergebnisse - Komplexe Prüfaufgaben mit hohen Messgeschwindigkeiten und Genauigkeiten - Einfache und schnelle Realisierung anspruchsvoller Aufgabestellungen ohne Programmierkenntnisse - Flexible Einbindung in Automatisierungsabläufe und Integration in Steuerungskonzepte - Unterstützung einer breiten Palette an Industriekameras sowie von 3D-Sensoren - Extrem hohe Performance im Live-Betrieb - Effizientes Datenmanagement für den Betrieb mehrerer Systeme in einem Netzwerk

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Bei einigen optosensorischen Applikationen kann es erforderlich sein, das Meßlicht auf die entsprechenden Sensorchips zu fokusieren. In solchen Fällen kommen Mikrolinsen-Arrays zum Einsatz, die direkt auf die Oberflächen der Gehäuse aufgebracht werden. Um die Linsen möglichst ohne Brechungsindexgradient zu befestigen, verwenden wir spezielle Klebstoffe. Sowohl die Maße, als auch die optischen Daten der Linsen- Arrays können nach Ihren Anforderungen festgelegt werden. In der Optosensorik und vor allem in der Mikrosystemtechnik werden besondere Anforderungen an zusätzliche Optiken gestellt. Durch die Miniaturisierung (Mikrolinsen) und die speziellen Verhältnisse der Optochips sind die Berechnungen nicht mit herkömmlichen Programmen zu leisten. Für die Adaption von kundenspezifischen Optiken können wir für sie die Berechnungen und die Herstellung der Linsen und Blenden übernehmen.

Verschiedene Arten von Messverfahren

Die berührungslose Messtechnik gewinnt zunehmend an Bedeutung, da sich Bauteile auf diese Weise komplett beurteilen lassen. Dies kann sowohl in der Entwicklungsphase, als auch bei der Untersuchung von Schadensfällen äußerst hilfreich sein. Sobald das Bauteil digitalisiert ist, können die erzeugten Punktewolken direkt gegen das CAD Modell verglichen und das Messergebnis als Falschfarbenbild ausgegeben werden. Dies hat den Vorteil, dass die Aussagekraft - im Vergleich zu einer taktilen Vermessung - infolge der ungleich höheren Punktedichte deutlich verbessert werden kann. Zudem lassen sich über die einmal aufgenommene Punktewolke beliebige Schnitte legen, so dass auch später aufkommende Fragen ohne erneute Vermessung schnell und kostengünstig beantwortet werden können Falschfarbenbild Schnittdarstellung Auch für diesen Anwendungsfall bieten wir geeignete Messgeräte. Unsere Messmaschine lässt sich mit einem Laserscanner bestücken, so dass Bauteile bis zu einer Länge von 5100 mm digitalisiert werden können. Ein weiterer Anwendungsfall für die berührungslose Messtechnik sind sehr kleine und für eine taktile Messmaschine nicht zugängliche Bauteile. Für diese verwenden wir ein hochpräzises optisches Koordinatenmessgerät, um auch hier optimale Messungen und geringe Messunsicherheiten gewährleisten zu können.

Das HI801 iris ist ein elegantes, kompaktes und intuitiv zu bedienendes Spektralphotometer, das alle Wellenlängen im sichtbaren Spektralbereich und im nahen Infrarot misst. Passen Sie Ihre Methoden an, führen Sie unterschiedlichste Messungen durch und vertrauen Sie dabei auf die Zuverlässigkeit des Geräts. iris bietet eine präzise Wellenlängenauswahl im Bereich zwischen 340 und 900 nm was eine exakte Befolgung von genormten Methoden in Kombination mit der geforderten Genauigkeit erlaubt, wichtig für professionelle Labors, in Wasser- und Abwasserbehandlung, Getränkeanalytik und vielen weiteren Bereichen. Messungen sind reproduzierbar, unabhängig vom Probendurchsatz, dank des speziell konstruierten, extrem hochwertigen optischen Systems. Die Anpassungsmöglichkeiten beinhalten unterschiedliche Küvettenformen und -größen, benutzerdefinierte Kalibrierkurven und Methoden. iris bietet Ihnen somit die Freiheit Substanzen und Substanzklassen zu messen, die weit über die voreingestellten Tests hinausgehen. Nutzen Sie beispielsweise enzymatische Assays, um spezifische organische Säuren oder Zuckerarten nachzuweisen. Lichtquelle: Wolframlampe Wellenlängenbereich: 340 bis 900 nm Wellenlängenauflösung: 1 nm Wellenlängenkalibrierung: automatisch Küvettenkompatibilität (Querschnitt): 16 mm rund, 22 mm rund, 13 mm rund , 10 mm quadratisch, 10 x 50 mm Rechteckig Betriebsmodi: Transmission (%), Extinktion, Konzentration Methoden: 85 voranistalliert, 100 bneutzerprogrammierbar Datenspeicher: 9999 Messwerte Exportformate: CSV oder PDF Konnektivität: 1 x USB Typ A, 1 x USB Typ B (PC-Anschluss) Spannungsversorgung: 15-V-DC-Netzteil, 10,8-V_Li-Ion-Akku Maße: 155 mm x 205 mm x 322 mm Gewicht: 3 kg

Mit einer konfokalen Optik erfassen wir exakt die Oberfläche von nicht kooperativen Objekten, unabhängig von ihrer Reflexions- oder Streueigenschaften. Unser entwickeltes und patentiertes System ermöglicht eine simultane Erfassung von mehr als 1200 3D-Messpunkten ohne bewegliche Elemente.

Die Laser Abstandssensoren mit integrierter Elektronik sind geeignet für die berührungslose Weg- und Abstandsmessung auch auf anspruchsvollsten Oberflächen. Mit verschiedenen Baugrößen, teachbaren Messbereichen zwischen 10 mm und 13 m sowie unterschiedlichen Strahlformen ist die AXIS Serie breit aufgestellt und damit bestens gerüstet für komplexe Messaufgaben und vielfältige Anwendungen in der Qualitätskontrolle, der Elektronikproduktion, dem Maschinenbau sowie der Verpackungsindustrie. Modell: AXIS-MI Messbereich: 10 - 104 mm