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Oberflächenanalyse Eine ideale Ergänzung des Rasterelektronenmikroskops (REM) für die umfassende Charakterisierung winziger Strukturen oder Oberflächendetails bildet unser hochmodernes System für die Röntgenspektroskopie (EDX). Jedes Detail, welches das REM abbildet, kann damit auf seine oberflächennahe Elementzusammensetzung untersucht werden. Neben Punkt- und Linienanalysen ist die Erstellung von „Elementlandkarten“ möglich. Wenn diese dem elektronenmikroskopischen Bild überlagert werden, lässt sich die Elementverteilung auf der Objektoberfläche wirksam charakterisieren. Für einen Grossteil der Fragestellungen aus den Bereichen Oberflächenmorphologie, Partikelcharakterisierung und Materialanalyse sind REM und EDX in ihrem Zusammenspiel die erste Wahl.

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