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Strichplatte MM/Radien/Winkel

Strichplatte MM/Radien/Winkel

Messungen sind sowohl auf hellen wie auf dunklen Objekten durch die spezielle Gestaltung des Massstabes möglich. Durch die Abdeckung des unteren Teils des Massstabes in der Längsrichtung wird dieser undurchsichtig und ist somit auch auf dunklen Gegenständen sichtbar. Die über die Abdeckung verlängerten Teilstriche werden in idealer Weise zu Messfühlern benutzt, entsprechend den Messbacken beim Mikrometer oder der Schiebelehre.
Messlupe F+C 8x Typ MM/Radien/Winkel

Messlupe F+C 8x Typ MM/Radien/Winkel

Die Messlupe F+C 8x Typ MM/Radien/Winkel bietet durch das achromatische Linsensystem eine erstklassige Bildschärfe im gesamten Blickfeld. Das Ablesen der Daten ist durch die spezielle Strichplatte sowohl auf hellem wie auch dunklem Hintergrund möglich. Selbstverständlich können Sie die Lupe stufenlos fokussieren. Durch die geneigte Stellung ist ein hervorragender Lichteintritt in das Lichtfenster möglich. Die Messlupe F+C wird mit einer Strichplatte mit MM/Radien/Winkel und in einem bruchfesten Etui mit F+C Logo geliefert.